Accéder directement au contenu Accéder directement à la navigation
Article dans une revue

In-situ electron microscopy study of non-volatile resistive switching in Mott insulator VO 2

Type de document :
Article dans une revue
Liste complète des métadonnées

https://hal-enpc.archives-ouvertes.fr/hal-03323463
Contributeur : Marcelo Rozenberg Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : samedi 21 août 2021 - 15:04:21
Dernière modification le : mardi 4 janvier 2022 - 06:38:15

Lien texte intégral

Identifiants

Collections

Citation

Shaobo Cheng, Min-Han Lee, Xing Li, Lorenzo Fratino, Marcelo Rozenberg, et al.. In-situ electron microscopy study of non-volatile resistive switching in Mott insulator VO 2. Microscopy and Microanalysis, Cambridge University Press (CUP), 2021, 27 (S1), pp.2162-2164. ⟨10.1017/S1431927621007790⟩. ⟨hal-03323463⟩

Partager

Métriques

Les métriques sont temporairement indisponibles