Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2021
Marcelo Rozenberg : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://enpc.hal.science/hal-03323463
Soumis le : samedi 21 août 2021-15:04:21
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2024-11:24:05
Citer
Shaobo Cheng, Min-Han Lee, Xing Li, Lorenzo Fratino, Marcelo Rozenberg, et al.. In-situ electron microscopy study of non-volatile resistive switching in Mott insulator VO 2. Microscopy and Microanalysis, 2021, 27 (S1), pp.2162-2164. ⟨10.1017/S1431927621007790⟩. ⟨hal-03323463⟩
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