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Communication dans un congrès
Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC
Yang Chen
1, 2
Lionel Gélébart
1
Franck Ouaki
1
Julien Derouillat
3
Camille Chateau
2
Patrick Aimedieu
2
Michel Bornert
2
Cédric Sauder
1
Andrew King
4
Camille Chateau 2
Auteur IdHAL : camille-chateau ORCID : https://orcid.org/0000-0002-7140-530X
Patrick Aimedieu 2
Auteur Etablissement employeur : École des Ponts ParisTech
Michel Bornert 2
Auteur Etablissement employeur : École des Ponts ParisTech IdHAL : michel-bornert
Cédric Sauder 1
Auteur
Andrew King 4
Auteur IdHAL : andrew-king-soleil ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8542-1354
1
SRMA - Service des Recherches Métallurgiques Appliquées (CEA Saclay 91191 Gif sur Yvette - France)
- DMN - Département des Matériaux pour le Nucléaire : DEN/DMN (France)
- CEA-DES (ex-DEN) - CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) : DEN-Sac-DMN (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DES (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- Université Paris-Saclay (Bâtiment Bréguet, 3 Rue Joliot Curie 2e ét, 91190 Gif-sur-Yvette - France)
- CEA-DES (ex-DEN) - CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) : DEN-Sac-DMN (France)
2
navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
3
MDLS - Maison de la Simulation (USR 3441 bât. 565 CEA Saclay 91191 Gif-sur-Yvette cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : USR3441 (France)
- Université Paris-Saclay (Bâtiment Bréguet, 3 Rue Joliot Curie 2e ét, 91190 Gif-sur-Yvette - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRF (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- Inria - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Domaine de Voluceau Rocquencourt - BP 105 78153 Le Chesnay Cedex - France)
- UVSQ - Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines : USR3441 (55 avenue de Paris - 78035 Versailles cedex - France)
4
SSOLEIL - Synchrotron SOLEIL (L'Orme des Merisiers Saint-Aubin - BP 48 91192 GIF-sur-YVETTE CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UR1 (France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-enpc.archives-ouvertes.fr/hal-01629666
Contributeur : Camille Chateau Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : lundi 6 novembre 2017 - 16:24:18
Dernière modification le : samedi 15 janvier 2022 - 03:48:21
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Identifiants
- HAL Id : hal-01629666, version 1
Collections
CNRS | CEA | DEN | MDLS | IFSTTAR | INRIA | SYNCHROTRON-SOLEIL | UVSQ | UR-NAVIER | ENPC | PARISTECH | CEA-DRF | CEA-UPSAY | DEN-SACLAY | GS-COMPUTER-SCIENCE | GS-ENGINEERING | INSTITUT-SCIENCES-LUMIERE
Citation
Yang Chen, Lionel Gélébart, Franck Ouaki, Julien Derouillat, Camille Chateau, et al.. Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC. Colloque Matériaux et grands instruments & Matériaux numériques - Analyses in situ : Expériences/Modélisation, Sep 2016, Paris, France. ⟨hal-01629666⟩
Métriques
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