A method of determining full components of stress field with micrometer spatial resolution by Laue microdiffraction - École des Ponts ParisTech Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

A method of determining full components of stress field with micrometer spatial resolution by Laue microdiffraction

F. Zhang
O. Castelnau
Michel Bornert
Modélisation et expérimentation multi-échelle pour les solides hétérogènes
J. Petit.
  • Fonction : Auteur
J.-S. Micha
  • Fonction : Auteur
O. Robach
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://enpc.hal.science/hal-01139910

Soumis le : mardi 7 avril 2015-13:14:48

Dernière modification le : lundi 7 août 2023-15:22:08

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Dates et versions

hal-01139910 , version 1 (07-04-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01139910 , version 1

Citer

F. Zhang, O. Castelnau, Michel Bornert, J. Petit., J.-S. Micha, et al.. A method of determining full components of stress field with micrometer spatial resolution by Laue microdiffraction. 16th International conference on experimental mechanics, Jul 2014, Cambridge, United Kingdom. ⟨hal-01139910⟩

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