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Communication dans un congrès
New method for measuring grains displacement in granular materials by X-ray computed tomography
M.H. Khalili Sébastien Brisard 1 Michel Bornert 2 Jean-Michel Pereira 3 Matthieu Vandamme 2 Nicolas Lenoir 2 Jean-Noël Roux 4
2
multi-échelle - Modélisation et expérimentation multi-échelle pour les solides hétérogènes
navier umr 8205 - Laboratoire Navier
M.H. Khalili
Auteur
IdHAL : mohamed-hassan-khaliliORCID : 0000-0002-5510-9682
Sébastien Brisard 1
Auteur
IdHAL : sbrisardORCID : 0000-0002-1976-6263IdRef : 156172283
Michel Bornert 2
Auteur
Etablissement employeur: École des Ponts ParisTechIdHAL : michel-bornertIdRef : 055813623
Jean-Michel Pereira 3
Auteur
Etablissement employeur: École des Ponts ParisTechIdHAL : jean-michel-pereiraORCID : 0000-0002-0290-5191IdRef : 105669989
Matthieu Vandamme 2
Auteur
IdHAL : matthieu-vandammeORCID : 0000-0001-6201-5468IdRef : 182277992
Nicolas Lenoir 2
Auteur
Jean-Noël Roux 4
Auteur
IdHAL : jean-noel-rouxORCID : 0000-0002-5864-8737IdRef : 114221103
1
navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
2
multi-échelle - Modélisation et expérimentation multi-échelle pour les solides hétérogènes (École des Ponts ParisTech
6-8 avenue Blaise Pascal- Cité Descartes
Champs-sur-Marne
F-77455 Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
3
cermes - Géotechnique (École des Ponts ParisTech
6-8 avenue Blaise Pascal- Cité Descartes
Champs-sur-Marne
F-77455 Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
4
Rhéophysique (École des Ponts ParisTech
2 allée Kepler
F-77420 Champs-sur-Marne - France)
- navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal-enpc.archives-ouvertes.fr/hal-01137696
Contributeur : MECA DOCENPC Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : mardi 31 mars 2015 - 11:05:15
Dernière modification le : samedi 15 janvier 2022 - 03:54:21
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Identifiants
- HAL Id : hal-01137696, version 1
Collections
ENPC | CNRS | UR-NAVIER | NAVIER-GEOTECHNIQUE | NAVIER-RHEOPHYSIQUE | PARISTECH | MULTI-ECHELLE | IFSTTAR
Citation
M.H. Khalili, Sébastien Brisard, Michel Bornert, Jean-Michel Pereira, Matthieu Vandamme, et al.. New method for measuring grains displacement in granular materials by X-ray computed tomography. Modeling Granular Media Across Scales, Jul 2014, Montpellier, France. ⟨hal-01137696⟩
Métriques
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