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Communication dans un congrès
Strain measurement in helium implanted polycristal using image analysis in laue Micro X-ray diffraction patterns
Marcelle Ibrahim
1, 2
Etienne Castellier
2, *
Hervé Palancher
3
Axel Richard
2
Philippe Goudeau
4
Michel Bornert
5
Sabine Caré
6
*
Auteur correspondant
5
multi-échelle - Modélisation et expérimentation multi-échelle pour les solides hétérogènes
navier umr 8205 - Laboratoire Navier
Marcelle Ibrahim 1, 2
Auteur
Etienne Castellier 2
Auteur correspondant
Hervé Palancher 3
Auteur
Axel Richard 2
Auteur
Philippe Goudeau 4
Auteur
Michel Bornert 5
Auteur Etablissement employeur : École des Ponts ParisTech IdHAL : michel-bornert
Sabine Caré 6
Auteur IdHAL : sabine-care
1
navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
2
CEA Cadarache (13108 Saint-Paul-les-Durance Cedex - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
3
DEC - Département d'Etudes des Combustibles (France)
- CEA-DES (ex-DEN) - CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) : DEN/Cadarache (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DES (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
4
PPRIME - Institut Pprime (Institut PPRIME : Recherche et Ingénierie en Matériaux, Mécanique et Energétique
SP2MI Téléport 2
Boulevard Pierre et Marie Curie
BP 30179
86962 FUTUROSCOPE CEDEX - France)
- Université de Poitiers : UPR3346 (15, rue de l'Hôtel Dieu - 86034 Poitiers Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UPR3346 (France)
- ENSMA : UPR3346 (France)
5
multi-échelle - Modélisation et expérimentation multi-échelle pour les solides hétérogènes (École des Ponts ParisTech
6-8 avenue Blaise Pascal- Cité Descartes
Champs-sur-Marne
F-77455 Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
6
msa - Matériaux et Structures Architecturés (Ecole des Ponts ParisTech
6-8 avenue Blaise Pascal- Cité Descartes
Champs-sur-Marne
F-77455 Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- navier umr 8205 - Laboratoire Navier (Ecole des Ponts ParisTech 6 / 8 avenue Blaise Pascal 77455 CHAMPS SUR MARNE - France)
- ENPC - École des Ponts ParisTech (École des Ponts ParisTech 6-8 avenue Blaise-Pascal Cité Descartes 77455 Champs-sur-Marne Marne-la-Vallée cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8205 (France)
- IFSTTAR - Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (14-20 Boulevard Newton - Cité Descartes, Champs sur Marne - F-77447 Marne la Vallée Cedex 2 - France)
Abstract : In order to study the long term behaviour of used nuclear fuel, UO2 polycrystalline samples were implanted by Helium ions. The thin implanted layer, close to the sample surface, is elastically stressed. X-ray micro-diffraction (X- XRD) can be used to measure the induced strain on about 700 different grains of the polycrystal. Image analysis on the Laue diffraction patterns is required for an accurate strain estimation. Three methods to interpret the Laue pattern are developped in this study. The study shows the influence of grain orientation on the results.
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-enpc.archives-ouvertes.fr/hal-00951483
Contributeur : Sabine Caré <>
Soumis le : lundi 24 février 2014 - 17:44:05
Dernière modification le : mardi 8 décembre 2020 - 10:21:03
Contributeur : Sabine Caré <>
Soumis le : lundi 24 février 2014 - 17:44:05
Dernière modification le : mardi 8 décembre 2020 - 10:21:03
Identifiants
- HAL Id : hal-00951483, version 1
Collections
CNRS | UNIV-POITIERS | NAVIER-STRUCTURES | UR-NAVIER | PARISTECH | ENPC | IFSTTAR | CEA | MULTI-ECHELLE | DEN | DEN-CAD | CEA-CAD | PPRIME
Citation
Marcelle Ibrahim, Etienne Castellier, Hervé Palancher, Axel Richard, Philippe Goudeau, et al.. Strain measurement in helium implanted polycristal using image analysis in laue Micro X-ray diffraction patterns. PhotoMechanics 2013, 27 - 29 May 2013, Montpellier University, France, 2013, Montpellier, France. 4 p. ⟨hal-00951483⟩
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